<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?><metadata xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"  xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:dcterms="http://purl.org/dc/terms/"><dc:title xml:lang="pt">MICROANÁLISE POR SONDA ELETRÔNICA</dc:title><dc:identifier>https://vocabulario.abcd.usp.br/pt-br/?tema=64243</dc:identifier><dc:language>pt</dc:language><dc:publisher xml:lang="pt">Agência de Bibliotecas e Coleções Digitais da USP</dc:publisher><dcterms:created>2001-10-01 00:00:00</dcterms:created><dcterms:isPartOf xsi:type="dcterms:URI">https://vocabulario.abcd.usp.br/pt-br/</dcterms:isPartOf><dcterms:isPartOf xml:lang="pt">Vocabulário Controlado da USP</dcterms:isPartOf><dc:format>text/html</dc:format> <dc:description xml:lang="PT"><![CDATA[ Identificação e medida de elementos e sua localização baseadas no fato de que a emissão de raios X emitidos por um elemento excitado por um feixe de elétrons tem um comprimento de onda característico daquele elemento e uma intensidade relacionada com sua concentração. É feita por um microscópio eletrônico acoplado a um espectrômetro de raio x em modo de varredura ou transmissão.<p>Fonte: DeCS. Disponível em: https://decs.bvsalud.org<p> ]]></dc:description></metadata>