<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?><mads xmlns="http://www.loc.gov/mads/" xmlns:mods="http://www.loc.gov/mods/v3" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mads/
	mads.xsd"><authority><topic authority="https://vocabulario.abcd.usp.br/pt-br/">MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA</topic></authority><related type="broader"><topic>MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA</topic></related><variant type="other"><topic>MICROSCOPIA DE VARREDURA DE FORÇA ATÔMICA </topic></variant> <note xml:lang="PT"><![CDATA[ Tipo de microscopia de varredura por sonda, na qual uma sonda montada sistematicamente na superfície da amostra que está sendo varrida em um padrão rastreado. A posição vertical é registrada como uma mola fixada a uma sonda que sobe e cai em resposta aos picos e vales da superfície. Estas deflexões produzem um mapa topográfico da amostra. <p>Fonte: DeCS. Disponível em: http://decs.bvs.br.<p> ]]></note></mads>