<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?><!DOCTYPE Zthes SYSTEM "http://zthes.z3950.org/schema/zthes-1.0.dtd">  <Zthes><term><termId>64243</termId><termName>MICROANÁLISE POR SONDA ELETRÔNICA</termName><termType>PT</termType><termLanguage>pt</termLanguage><termVocabulary>Vocabulário Controlado da USP</termVocabulary>	<termStatus>active</termStatus>	<termApproval>approved</termApproval>	<termSortkey>MICROANÁLISE POR SONDA ELETRÔNICA</termSortkey><termNote label="Scope"><![CDATA[ Identificação e medida de elementos e sua localização baseadas no fato de que a emissão de raios X emitidos por um elemento excitado por um feixe de elétrons tem um comprimento de onda característico daquele elemento e uma intensidade relacionada com sua concentração. É feita por um microscópio eletrônico acoplado a um espectrômetro de raio x em modo de varredura ou transmissão.<p>Fonte: DeCS. Disponível em: https://decs.bvsalud.org<p> ]]></termNote><termCreatedDate>MICROANÁLISE POR SONDA ELETRÔNICA</termCreatedDate><relation><relationType>BT</relationType><termId>82507</termId><termName>RADIOMETRIA</termName><termType>PT</termType></relation></term>  </Zthes>