<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?><!DOCTYPE Zthes SYSTEM "http://zthes.z3950.org/schema/zthes-1.0.dtd">  <Zthes><term><termId>64446</termId><termName>MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA</termName><termType>PT</termType><termLanguage>pt</termLanguage><termVocabulary>Vocabulário Controlado da USP</termVocabulary>	<termStatus>active</termStatus>	<termApproval>approved</termApproval>	<termSortkey>MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA</termSortkey><termNote label="Scope"><![CDATA[ Tipo de microscopia de varredura por sonda, na qual uma sonda montada sistematicamente na superfície da amostra que está sendo varrida em um padrão rastreado. A posição vertical é registrada como uma mola fixada a uma sonda que sobe e cai em resposta aos picos e vales da superfície. Estas deflexões produzem um mapa topográfico da amostra. <p>Fonte: DeCS. Disponível em: http://decs.bvs.br.<p> ]]></termNote><termCreatedDate>MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA</termCreatedDate><relation><relationType>UF</relationType><termId>64452</termId><termName>MICROSCOPIA DE VARREDURA DE FORÇA ATÔMICA </termName><termType>ND</termType></relation><relation><relationType>BT</relationType><termId>64455</termId><termName>MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA</termName><termType>PT</termType></relation></term>  </Zthes>