<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?><!DOCTYPE Zthes SYSTEM "http://zthes.z3950.org/schema/zthes-1.0.dtd">  <Zthes><term><termId>64455</termId><termName>MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA</termName><termType>PT</termType><termLanguage>pt</termLanguage><termVocabulary>Vocabulário Controlado da USP</termVocabulary>	<termStatus>active</termStatus>	<termApproval>approved</termApproval>	<termSortkey>MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA</termSortkey><termNote label="Scope"><![CDATA[ Microscopia de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma propriedade particular relacionada com a superfície. Quando esta propriedade é a topografia local, o método é Microscopia de Força Atômica e quando é a condutividade local, o método é Microscopia de Tunelamento. <p>Fonte: DeCS. Disponível em: http://decs.bvs.br.<p> ]]></termNote><termCreatedDate>MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA</termCreatedDate><relation><relationType>BT</relationType><termId>64437</termId><termName>MICROSCOPIA</termName><termType>PT</termType></relation><relation><relationType>NT</relationType><termId>64446</termId><termName>MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA</termName><termType>PT</termType></relation></term>  </Zthes>