Microscopia de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma propriedade particular relacionada com a superfície. Quando esta propriedade é a topografia local, o método é Microscopia de Força Atômica e quando é a condutividade local, o método é Microscopia de Tunelamento. Fonte: DeCS. Disponível em: http://decs.bvs.br.
